承接包括暗室和全套测试系统在内的电磁兼容实验室交钥匙工程
覆盖军工/汽车电子/家电/医疗/通讯/信息技术/照明等行业
对于低频(150kHz~80MHz/230MHz)的射频信号的波长较长,EUT的互连电缆比EUT本身更加容易成为天线而接收电磁场,因此射频抗扰度试验的低频部分采用传导测量方式。通过向被试设备的电缆注入共模电流,可以模拟E场和H场对被试设备的影响。
传导抗扰度测试系统(CS)
主要标准:IEC 61000-4-6/GB T17626.6:RF induction conducted disturbances immunity testest
应用特点:
对于低频(150kHz~80MHz/230MHz)的射频信号的波长较长,EUT的互连电缆比EUT本身更加容易成为天线而接收电磁场,因此射频抗扰度试验的低频部分采用传导测量方式。通过向被试设备的电缆注入共模电流,可以模拟E场和H场对被试设备的影响。针对被试设备不同类型的端口,可选择4种注入方式:
CDN直接注入:适用于电源线(M型CDN)及常用电缆
电磁钳注入:如果无法适用CDN,可以使用电磁钳。
电流钳注入:无法适用CDN,而且被测电缆的长度过短时,就需要使用电流钳。
直接注入法:通过100欧姆电阻直径注入到同轴电缆的屏蔽层上。
测试配置布置图:
主要测试设备:信号源、功率放大器、定向耦合器、功率计、CDN网络、EMC测试软件等