主要标准：
◆IEC 62132-1:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1: General conditions and definitions
◆IEC 62132-4:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Direct RF power injection method
测试介绍：
IEC62132-4规定了采用直接射频功率注入(DPI)法测量IC的抗干扰性能，射频信号直接注入在芯片单只引脚或一组引 脚上，耦合电容同时起到了隔直的作用，避免了直流电压直接加在功放的输出端。
测试配置布置图:
主要测试设备：传导抗扰度测试系统、功率注入探头等.
测试环境：屏蔽室
