承接包括暗室和全套测试系统在内的电磁兼容实验室交钥匙工程
覆盖军工/汽车电子/家电/医疗/通讯/信息技术/照明等行业
与受试器件(DUT)运行不同步的骚扰通过耦合网络施加给IC引脚。
主要标准:
◆IEC 62215-3: Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 3: Non-synchronous transient injection method
测试介绍:
与受试器件(DUT)运行不同步的骚扰通过耦合网络施加给IC引脚。不管瞬态是否在IC规定的运行电压范围之内,本 方法都能够得到传导瞬态骚扰和其引起的IC性能降低之间的相互关系并对其进行分类。
测试配置布置图:
主要测试设备:非同步瞬态脉冲发生器、脉冲发射单元等
测试环境:屏蔽室