2019年10月24日，由诺益主办的“2019年集成电路电磁兼容检测技术沙龙——杭州站”活动在杭州电子科技大学下沙校区召开。
    当今，IC芯片的电磁兼容性越来越受到重视。集成电路的电磁兼容问题会最终反映在产品的电磁兼容性上，这样就给产品开发设计带来很大的麻烦。很多电子信息制造商为了降低其产品的 EMC符合性风险，希望把对产品的 EMC 要求推导到IC层次， 从源头对电磁兼容进行控制。
   IEC/TC47/SC47A（半导体器件标准化技术委员会集成电路技术委员会）专门成立了第九工作组， 来负责 IC 芯片电磁兼容标准的研究与制定，并出版了一系列电磁兼容测量标准。

     本次研讨会为IC学术沙龙会议，邀请到了EMC业内著名公司德国LNAGER的资深专家Jorg Hacker先生和Susanne Kaule女士给大家做技术报告，来自ITS、大华、北大信息技术高等研究院、浙大、ABB、士兰、国芯、晶华、华澜、友旺等IC业内著名单位技术专家代表出席本次沙龙。

诺益公司总经理、集成电路EMC标准工作组成员郑益民先生致欢迎词，表达了对与会嘉宾的热烈欢迎和本次会议的深刻期待，希望能通过本次研讨会，增进行业内交流，促进IC电磁兼容检测技术在国内的发展和普及。

研讨会期间，Joerg Hacker先生分别就EMC Basics - Coupling Mechanism、LANGER Board EMC Measurement Techniques & Instruments、LANGER IC EMC Measurement Techniques & Instruments这三个主题做了报告，讨论了IC EMC的测试原理、测试技术以及测试设备，会议气氛热烈，技术沟通碰撞深入，报告收到与会人员的一致好评。

  

  
  作为第12届国际集成电路电磁兼容研讨会议的后续活动，本次研讨会本着“繁荣学术、凝聚力量、促进EMC测试技术发展”的宗旨，致力于提升行业水平,推动产品安全可靠，取得了圆满成功。