承接包括暗室和全套测试系统在内的电磁兼容实验室交钥匙工程
覆盖军工/汽车电子/家电/医疗/通讯/信息技术/照明等行业
IEC61967-4规定了两种测试方法:1Ω测试法和150Ω测试法。
1Ω/150Ω直接耦合法 传导发射测试
主要标准:
◆IEC 61967-1: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 1: General conditions and definitions
◆IEC 61967- 4: Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 Ω/150 Ω direct coupling method
测试介绍:
IEC61967-4规定了两种测试方法:1Ω测试法和150Ω测试法。1Ω测试法用来测试接地引脚上的总骚扰电流,150Ω测试法用来测试输出端口的骚扰电压。离开芯片的射频电流汇到集成电路的接地引脚,因此对地回路射频电流的测量可较 好地反映集成电路的电磁骚扰大小。
为实现150Ω共模阻抗与50Ω的测试系统阻抗的匹配,必须采用阻抗匹配网络。
测试配置布置图:
主要测试设备:接收机、高频探头等
测试环境:屏蔽室